机译:使用多阳极锯齿形硅漂移探测器进行X射线检测
机译:阳极间距为250 / spl mu / m的多阳极锯齿硅漂移检测器中的电子限制
机译:锯齿形p / sup + /条带减少了硅漂移探测器中电子云的展宽
机译:具有多阳极锯齿硅漂移探测器的X射线检测
机译:用于伽玛射线和X射线望远镜的氢化非晶硅薄膜晶体管像素化SU-8微孔探测器的开发。
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:大角度硅漂移探测器X射线检测性能的实际测量在新开发的300 kV旋转校正大臂上定量分析